31-W一米平面光柵攝譜儀 本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質(zhì)的成份和含量,主要用于金屬合金(包括礦物礦井石)的日常定性量分析,純金屬和材料的雜質(zhì)鑒定,與各種附件配合,用作激光微區(qū)分析、記錄閃光和弱光現(xiàn)象。
一.用途:
本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質(zhì)的成份和含量,主要用于金屬合金(包括礦物礦井石)的日常定性量分析,純金屬和材料的雜質(zhì)鑒定,與各種附件配合,用作激光微區(qū)分析、記錄閃光和弱光現(xiàn)象。
二.規(guī)格:
工作波段: 200nm~850nm
攝譜儀焦距: F=1050㎜
相對(duì)孔徑: A=1:22
狹縫主要技術(shù)指標(biāo): 寬度范圍0.002~0.3㎜ 寬度分度值0.001㎜
有效高度10㎜ 寬度再現(xiàn)性0.001㎜
波長(zhǎng)顯示: 計(jì)數(shù)器(nm)
光柵: 1200條/㎜光柵2塊
外形尺寸:長(zhǎng)×寬×高 1300×1500(包括導(dǎo)軌在內(nèi))×600㎜
重量: 100㎏
工作電源: 380V 50Hz
220V 50Hz
E39-L142 E39-L143 HI2550 HI4522C HI9147 HI83226 E39-L144 HI83203 E39-L148 HI83212 E39-L149 E39-L166 E39-L167 E39-L168 E39-L180 E39-L181 E39-L185 E39-L186 E39-L187 E39-L188 E39-L190 E39-S39 E39-S61 E39-S63 E39-S64 E39-S65A E39-S65B E39-S68
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