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- 產(chǎn)品名稱：GT-100高精度涂層測厚儀
- 產(chǎn)品型號：GT100
- 產(chǎn)品價格：0.00 元
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簡單介紹
GT-100高精度涂層測厚儀
GT-100高精度涂層測厚儀可無損地直接測量磁性材料（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼）等物體表面上的非磁性覆蓋層厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡膠，銅，鋅、鋁、鉻、銅等）。非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
產(chǎn)品描述
GT-100高精度涂層測厚儀 涂層測厚儀
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GT-100高精度涂層測厚儀
1、功能特點
GT-100高精度涂層測厚儀可無損地直接測量磁性材料（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼）等物體表面上的非磁性覆蓋層厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡膠，銅，鋅、鋁、鉻、銅等）。非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。
可進(jìn)行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能
具有欠壓指示功能
具有錯誤提示功能,中文菜單，有背光功能
具有自動關(guān)機(jī)功能
2、技術(shù)參數(shù)：
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測頭類型
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可選，見附表1
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測量原理
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磁性法和電渦流
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測量范圍
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0-1250um，具體探頭測量范圍見附表1
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低限分辨力
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0.1μm
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示值誤差
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一點校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1] 、兩點校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
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測量條件
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*小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9 、基體*小面積的直徑(mm)：ф7 、*小臨界厚度(mm)：0.5
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溫濕度
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0~40℃ | 20%RH～90%RH
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統(tǒng)計功能
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平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
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工作方式
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直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
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測量方式
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連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
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存儲能力
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495個測量值
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關(guān)機(jī)方式
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手動和自動
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電源
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二節(jié)1.5V電池
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外形尺寸
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50×120×25mm
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重量
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150g
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3、標(biāo)準(zhǔn)配置：
主機(jī)、N測頭或 F測頭、鐵或鋁基體、標(biāo)準(zhǔn)片、 數(shù)據(jù)處理軟件、AA型堿性電池
4、可選附件
其他用途探頭（見附表1）
迪斯凱瑞GT-100高精涂層測厚儀可選測頭
。
測頭參數(shù)表： 附表1
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側(cè)頭型號
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F400
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F1
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F1/90°
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F10
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N1
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CNO2
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工作原理
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磁感應(yīng)
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電渦流
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測量范圍（μm）
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0-400
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0-1250
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0-10000
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0-1250(銅上鍍鉻0-40）
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10-200
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低限分辨率（μm）
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0.1
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0.1
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10
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0.1
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1
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示值誤差
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一點校準(zhǔn)（μm）
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±﹙3％H＋1﹚
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±﹙3％H＋10﹚
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±﹙3％H＋1.5﹚
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±﹙3％H＋1﹚
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二點校準(zhǔn)（μm）
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±[(1~3）％H+0.7]
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±[(1~3）％H+1]
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±[(1~3）％H+10]
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±[(1~3）％H+1.5]
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-
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測試條件
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*小曲率半徑（㎜）
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凸
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1
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1.5
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平直或管內(nèi)徑（R﹥7㎜）
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10
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3
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僅為平直
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*小面積直徑（㎜）
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Ф3
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Ф7
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Ф7
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Ф40
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Ф5
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Ф7
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基體臨界厚度（㎜）
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0.2
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0.5
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0.5
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2
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0.3
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無限制
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X51-11PH倒置顯微鏡 X51-A12PH倒置顯微鏡 X51-A21PH倒置顯微鏡 X51-F32PH倒置顯微鏡 X51-A71PHP倒置顯微鏡 IX71-12-000-2倒置顯微鏡 IX71-22-000-2倒置顯微鏡 IX71-A21PH倒置顯微鏡 IX71-F22PH倒置顯微鏡 IX71-22PH倒置顯微鏡 IX71-F32PH倒置顯微鏡 IX71-F22DIC倒置顯微鏡 IX71-F22RC倒置顯微鏡
