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GT-100高精度涂層測厚儀 GT100 上海五久自動化設(shè)備有限公司

GT-100高精度涂層測厚儀

GT-100高精度涂層測厚儀
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  • 產(chǎn)品名稱:GT-100高精度涂層測厚儀
  • 產(chǎn)品型號:GT100
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簡單介紹

GT-100高精度涂層測厚儀 GT-100高精度涂層測厚儀可無損地直接測量磁性材料(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼)等物體表面上的非磁性覆蓋層厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡膠,銅,鋅、鋁、鉻、銅等)。非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)

產(chǎn)品描述
GT-100高精度涂層測厚儀   涂層測厚儀

GT-100高精度涂層測厚儀
1、功能特點

GT-100高精度涂層測厚儀可無損地直接測量磁性材料(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼)等物體表面上的非磁性覆蓋層厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡膠,銅,鋅、鋁、鉻、銅等)。非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。
可進(jìn)行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正 
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE) 
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能 
具有欠壓指示功能 
具有錯誤提示功能,中文菜單,有背光功能
具有自動關(guān)機(jī)功能

2、技術(shù)參數(shù):

 

測頭類型
可選,見附表1
測量原理
磁性法和電渦流
測量范圍
0-1250um,具體探頭測量范圍見附表1
低限分辨力
0.1μm
示值誤差
一點校準(zhǔn)(um):±[3%H+1] 、兩點校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1]
測量條件
*小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9 、基體*小面積的直徑(mm):ф7 、*小臨界厚度(mm):0.5
溫濕度
0~40℃ | 20%RH~90%RH
統(tǒng)計功能
平均值、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
工作方式
直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式
連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
存儲能力
495個測量值
關(guān)機(jī)方式
手動和自動
電源
二節(jié)1.5V電池
外形尺寸
50×120×25mm
重量
 150g

 

 
3、標(biāo)準(zhǔn)配置:

主機(jī)、N測頭或 F測頭、鐵或鋁基體、標(biāo)準(zhǔn)片、 數(shù)據(jù)處理軟件、AA型堿性電池

4、可選附件

其他用途探頭(見附表1)

迪斯凱瑞GT-100高精涂層測厚儀可選測頭


。

測頭參數(shù)表:                                    附表1

側(cè)頭型號
F400
F1
F1/90°
F10
N1
CNO2
工作原理
磁感應(yīng)
電渦流
測量范圍(μm)
0-400
0-1250
0-10000
0-1250(銅上鍍鉻0-40)
10-200
低限分辨率(μm)
0.1
0.1
10
0.1
1
示值誤差
一點校準(zhǔn)(μm)
±﹙3%H+1﹚
±﹙3%H+10﹚
±﹙3%H+1.5﹚
±﹙3%H+1﹚
二點校準(zhǔn)(μm)
±[(1~3)%H+0.7]
±[(1~3)%H+1]
±[(1~3)%H+10]
±[(1~3)%H+1.5]
-
測試條件
*小曲率半徑(㎜)
1
1.5
平直或管內(nèi)徑(R﹥7㎜)
10
3
僅為平直
*小面積直徑(㎜)
Ф3
Ф7
Ф7
Ф40
Ф5
Ф7
基體臨界厚度(㎜)
0.2
0.5
0.5
2
0.3
無限制

X51-11PH倒置顯微鏡  X51-A12PH倒置顯微鏡  X51-A21PH倒置顯微鏡  X51-F32PH倒置顯微鏡  X51-A71PHP倒置顯微鏡  IX71-12-000-2倒置顯微鏡  IX71-22-000-2倒置顯微鏡  IX71-A21PH倒置顯微鏡  IX71-F22PH倒置顯微鏡  IX71-22PH倒置顯微鏡  IX71-F32PH倒置顯微鏡  IX71-F22DIC倒置顯微鏡  IX71-F22RC倒置顯微鏡
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