DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀-技術(shù)參數(shù)：

FMP10涂層測厚儀-探頭技術(shù)參數(shù)：

FGA1.3：磁感應探頭：常用于高精度、高靈敏度、薄涂鍍層測量

測量范圍： 0 ～ 1 500 μm
測量精度： 0.25 μm （0－50 μm）
0.5 ％ （50－1 000 μm）
< 2.5 ％（1 000－1 500 μm）
*小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 14 mm 以上即為測量精度
*小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
*薄可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）

FGAB1.3：磁感應探頭：常規(guī)測量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性

測量范圍： 0 ～ 2 000 μm
測量精度： 0.5 μm （0－100 μm）
0.5 ％（100－1 000 μm）
< 3 ％ （1 000－2 000 μm）
*小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 18 mm 以上即為測量精度
*小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
*薄可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）

FGABI 1.3－150：磁感應探頭：長臂探頭，*小測 Φ9mm 孔壁涂鍍層

測量范圍： 0 ～ 1 000 μm
測量精度： 0.5 μm （0－50 μm）
1 ％（50－1 000 μm）
*小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 16 mm 以上即為測量精度
*小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
*薄可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）
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